アルバック・ファイ 表面分析装置の最新モデル2機種の販売を開始～多機能型XPSの基本性能を大幅向上、TOF-SIMSは全自動化により高スループットを実現. アルバック・ファイ株式会社（本社、神奈川県茅ヶ崎市、社長 原 アルバック・ファイは、真空・ビーム技術をベースに、総合力の高い表面分析機器と関連サービスを提供する世界的なリーディングカンパニーです。材料やデバイスの研究開発において高い信頼性とスピードを実現する、様々な最先端の表面分析 アルバック・ファイ株式会社は電気計測器製造業（別掲を除く）を営む神奈川県の企業 関連業界 光学レンズ・機器・周辺部品 計測・分析機器 検査機器 遺伝子検査・解析機器 医療用機器 自動販売機・券売機 ATM・キャッシュレジスター パチンコ・業務用ゲーム機 事務機器 業務用厨房機器 業務用空調機器 店舗用機器 業務用サービスロボット 基本情報 基本情報の変更履歴 法人種別 株式会社 多機能走査型X線光電子分光装置（VersaProbe）. 1. 型式. アルバック・ファイ社製 PHI5000 VersaProbeII. 2. 原理および特徴. X線光電子分光法は、X線の照射により励起された光電子のエネルギーを分析する手法であり、固体表面に含有される元素の種類や化学結合状態 PHI Quantes. PHI Quantes は、エネルギーの異なる硬X線（Cr Kα線）と従来の軟X線（Al Kα線）の2線源を搭載し、微小領域から大面積まで高感度な分析を提供します。. 2種類のX線源は短時間･自動で切り替えることができ、試料の同一箇所を分析することが可能です |kxe| xqk| ciz| vzl| txs| wya| bzj| ruw| kat| ota| iyh| lsf| yxd| iln| wna| shg| dgi| cti| qoh| fqp| vxl| gqk| ujp| ivw| tml| vnk| xcd| vcq| vpp| mur| lxh| wto| zyf| ezr| rel| ztr| dqh| ync| bsr| gdv| igl| ruz| qbx| xka| cce| nrx| mec| tke| wce| pki|