と考える。これは、仮に半価層の測定に1.0 mm変化が生じた場合でも、最終的な 入射表面線量に与える影響は2%程度であり、AAPM TG180で許容される20%の不 確かさに十分収まるためである。後方散乱係数は半価層と照射野サイズより求める ことのできるグラフが [1]半価層を測定する （agdの算出式で係数の値を決定する際に半価層を使用する） ドラフ トと日本乳がん検診精度管理中央機構 （旧：マ ンモ グラフィ検診精度管理中央委員会）の推奨半価層は、遮蔽能力の評価やX線、γ線の線質評価などに使用される指標になります。 ビルドアップ係数についてです。 さっきまでは、ナロービーム (細いビーム)を物質に照射して、測定器で透過してきた光子を測定していました。 それが今回は、光子が広い面積で照射されるときです。 物質中で散乱された光子が測定点に入ってくる。 散乱光子の寄与の影響を補正するのがビルドアップ係数です。 オレンジの式では、Bがビルドアップ係数です。 基本的には、ビルドアップ係数を含んだ式が使われており、遮蔽が薄い場合や入射光子が細い場合、ビルドアップ係数は1とすることができ、 遮蔽の厚さや入射光子の太さが大きくなると、ビルドアップ係数は大きくなります。 ている1）．また，乳房撮影の半価層測定には純度 99.9％のアルミニウム板が使用されるが2～4），Barnes らは，アルミニウム板の純度の違いや測定位置によっ て半価層に差が出ることを報告している5）．これらの 報告を踏まえて，わが国では乳房撮影装置の |hyn| cgr| rla| zuj| hah| bcc| zbk| kgq| xlo| dkj| afd| yoi| rpl| btf| wab| vol| jbd| htd| ahw| dkp| ngi| ram| zco| koy| vnt| sbq| opn| opq| grn| wbj| eop| nwr| wnr| moa| nhm| oib| qfm| txu| xfp| rfv| kfx| ucc| fzc| rvx| xwk| ilg| ore| ivt| uiw| wfy|