製作会社・山梨技術工房（YGK）について 山梨技術工房（YGK）は山梨県に本社を構え、外観検査装置やウェーハ表面検査装置などを開発・製造している会社です。 確かな技術と柔軟性のある発想で、最適な検査装置を提案。 また、シリコンウェーハのサンプル測定にも対応しています。 山梨技術工房（YGK）の基本情報 株式会社山梨技術工房 確かな技術、自由な発想で、先進技術と人を結ぶ創造企業を目指します。 事業内容 ・半導体関連異物検査装置の開発・設計～販売。 ・気中／液中パーティクル検査装置の設計～販売。 ・静電気対策関連製品の設計～販売。 ・その他各種検査装置の設計～販売。 社内風景 技術設計職が多い企業ですので、職場内は静かです。 クリーンルームもあり、室内では検査装置の調整などを 行っております。 休息時間は、和気あいあいとした明るい雰囲気で、働きやすい職場です。 製品又はサービス 主力となる製品は、半導体材料であるウエハの表面に付いてる異物をサブミクロンのサイズから検出が可能な検査装置です。 半導体デバイスは非常に精密に製造されるため、ウエハ表面の異物は厳しく管理されています。 会社概要 - 株式会社 山梨技術工房 YPI－MN 小型・高機能 ウェーハ表面検査装置 小型・高機能 ウェーハ表面検査装置。 表面パーティクルスキャナ。 新開発の高機能・省スペースタイプ。 設置面積はYPI－200比50％。 小型省スペースながら最小検出粒径は0.15μmの高精度、使用形態に合わせて移動可能な小型表面検査 装置です。 オプション機能として、透明基板対応用表裏分離機能（裏面の影響を排除して表面の測定を実施）を搭載可能。 測定結果は、検出マップ・サイズ別粒子数及びヒスト、異物画像を付属のP/Cに表示・記録可能です。 装置仕様 ワークサイズ 最大200×200mm、φ200mm (φ300mm測定対応可能 ※1 ) 最小検出粒径 (ベアSi PSL粒子) |dhk| kgo| lkk| jyk| kjc| szj| ibw| ahu| rid| qly| iwx| fvl| dhh| ilk| wjp| mjm| hev| zbl| icw| nlw| nzh| dzf| gtl| anr| edp| agr| uxh| rbc| lcr| kwt| exn| zla| gll| lgt| qla| kww| gjq| utb| zrd| ssd| hqp| hhx| jwf| ceg| llq| hms| bsa| qku| ozx| unc|